SJ 50033.124-1997 半导体分立器件PIN101～105型硅PIN大功率二极管详细规范
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ID： |
12C60B0A00844514A242B219EA2E92A9 |
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文件大小(MB)： |
0.46 |
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页数： |
9 |
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日期： |
2024-7-27 |
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SJ,中华人民共和国电子行业军用标准,FL 5961 SJ 50033/124-97,半导体分立器件PIN 101.105型,硅PIN大功率二极管详细规范,Semiconductor discrete device,Detail specification for silicon,power PIN diodes for type PIN101 .105,1997-06-17 发布 1997.10.01 实施,中华人民共和国电子工业部批准,中华人民共和国电子行业军用标准,半导体分立器件PIN101.105型,硅PIN大功率二极管详细规范 SJ 50033/124-97,Semiconductor discrete device,Detail specification for silican,power PIN diodes for type PIN101 .105,范围,1.I 主题内容’,本规范规定了 PIN101.105型硅PIN大功率二极管（以下简称器件）的详细要求,1.2 适用范围,本规范适用于器件的研制、生产和采购,1.3 分类,本规范根据器件质量保证等级进行分类,1.3.1 器件的等级,按GJB 33-85《半导体分立器件总规范》第1.3条的规定,提供的质量保证等级为普军,级、特军级、超特军级,分别用字母GP、GT、GCT表示,2引用文件,GB 6570-86微波二极管测试方法,GJB 33-85 半导体分立器件总规范,GJB 128-86半导体分立器件试验方法,GJB 1557-92半导体分立器件微波二极管外形尺寸,3要求,3.I 详细要求,各项要求应按GJB 33和本规范的规定,3.2 设计、结构和外形尺寸,器件的设计、结构和外形尺寸应按GJB 33和本规范的规定,3.2.1 引出端材料和涂层,引出端材料为可伐。引出端表面层应为镀金层,3.2.2 器件结构,中华人民共和国电子工业部1997-06-17发布1997-10-01 实施,—1 —,SJ 50033/124-97,高阻单晶双扩散台面PIN结构,3.2.3 外形尺寸,外形尺寸应符合GJB 1557中W14-02的要求,见图1,. *0.4 A,4>D,桓,所 ',W14-02,符号ヾmin nom max,6.90 7.10,皿5.40 5.60,力!み6.00,如2.34 2.40,H 12.0 13.0,ホ5.60 6.40,N 3.80 4.20,W M3,图1外形尺寸,3.3 最大额定值和主要电特性,3.3.1 最大额定值,型号,Vrm,V,FM,A,p,W,Top,t,Tsrg,じ,PIN101 200,3 5 -55-125 -65-175,PIN102 400,PIN103 600,P1N104 800,PIN105 1000,2,SJ 50033/124-97,3.3.2 主要电特性（Ta = 25匕）,、极,ャ值,型、,A,V（BR）,IrCIO/xA,V,/= 10kHz,IF= 100mA,a,VR = 100V,PF,昨,Ip~ 100mA,V,ム,Ip = 10mA,Ir = 100mA,開,Z（th）t,If = 500mA,脉宽!0ms,K/W,Cs,片IMH,pF,厶,nH,最丒^ 一^,最大值,最小值,最大值,最小值,最大值,最小值,最大值,最小值,最大值,典型值典型值典型值,PIN101 200 一,— 1.5 1.4 — 1.0 — 1.0 20 0.35 1.5,PIN102 400 —,PIN103 600 一,PIN104 800 一,PIN105 1000 一,3.4 电测试要求,电测试应符合GB 6570及本规范的规定,3.5 标志,3.5.I 标志应符合GJB 33和本规范的规定,在器件瓷管中部打印下列标志,a.器件型号;,b.产品保证等极;,c.检验批识别代码,4质量保证规定,4.!抽样和检验按GJB 33的规定,4.2 鉴定检验,鉴定检验按GJB 33的规定,4.3 筛选（仅对GT和GCT级）,筛选应按GJB33表2和本规范的规定。其测试应按本规范表1的规定进行,超过本规,范表1极限值的器件应予剔除,筛选,（见 GJB33 表 2）,试验方法,GJB 128,” 测 试,2高温寿命1032 175c 24h,3热冲击1051 除高温150匕、循环20次外,其余同试验条件C,4恒定加速度2006 196000m/J（20000g）x、y 两个方向各 !min,5密封1071 a.细检漏试验条件H漏率5X 10-zpa,cm3/s,b.粗检漏试验条件C,6高温反偏1038 150匕48h额定值Vrm的80%,7中间测试,8电老化1038 85 匕 /=50Hz ；FM = 50mA,Vrm = 80%V（br）96h,9最后测试ArF/rF<15%,其他参数:按本规范表1的A2和A4分组,3 —,SJ 50033/124-97,4.4 质量一致性检验,质量一致性检验应按GJB 33的规定,4.4.1 A组检睑,A组检验应按GJB 33和本规范表1的规定进行,4.4.2 B组检验,B组检验应按GJB 33和本规范表2的规定进行,4.4.3 C组检验,C组检验应按GJB 33和本规范表3的规定进行,4.5 检验和试验方法,检验和试验方法应按本规范相应表的规定,4.5.1 对外观及机械检验,制造厂应以文件方式对检验项目、所需设备、失效标准加以规定,表1 A组检验,检验或试验,GB 6570,LTPD 符 号,极限值,单位,方 法条 件最小值最大值,A1分组……
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